测量与模型

模型可用于解释现实世界实体的数值元素的行为以及测量它们。为了帮助测量过程，映射模型也应辅以映射域模型。模型还应指定这些实体如何与属性相关以及特征如何相关。

测量分为两种类型：

• 直接测量
• 间接测量

直接测量

这些是可以无需任何其他实体或属性参与即可测量的测量。

以下直接测量方法常用于软件工程。

• 通过代码行数 (LOC) 测量源代码长度
• 通过经过时间测量测试目的持续时间
• 通过缺陷计数测量测试过程中发现的缺陷数量
• 程序员在程序上花费的时间

间接测量

这些是可以根据任何其他实体或属性进行测量的测量。

以下间接测量方法常用于软件工程。

$$\small 程序员生产率 = \frac{产生的代码行数}{人月工作量}$$

$\small 模块缺陷密度 = \frac{缺陷数量}{模块大小}$

$$\small 缺陷检测效率 = \frac{检测到的缺陷数量}{缺陷总数}$$

$\small 需求稳定性 = \frac{初始需求数量}{需求总数}$

$\small 测试有效率 = \frac{覆盖的项目数量}{项目总数}$

$\small 系统损坏率 = \frac{修复故障花费的工作量}{项目总工作量}$

预测测量

为了为项目分配适当的资源，我们需要预测开发项目的努力、时间和成本。预测测量始终需要一个数学模型，该模型将要预测的属性与我们现在可以测量的某些其他属性相关联。因此，预测系统由数学模型以及一组用于确定未知参数和解释结果的预测程序组成。